[发明专利]使用先前检验的残余材料反射检验样本有效
| 申请号： | 201380030559.2 | 申请日： | 2013-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN104620112B | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | C·R·达伯特;J·D·克莱尔;A·B·斯蒂尔;D·罗伊 | 申请（专利权）人： | 贝克顿·迪金森公司 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文中公开的实施方式涉及进行自动测定的方法和系统，并且具体涉及在自动仪器上对样本进行连续测定。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 先前 检验 残余 材料 反射 样本 | ||
【主权项】：
对多个样品进行自动测定的方法，所述方法包括：a)提供被配置以根据一个或多个各自测定工作流接受和处理多个样本的自动仪器，所述样本来自一种或多种目标分析物的所述多个样品；b)提供所要检验的多个样本；c)自动将所要检验的所述多个样本的每一个的第一部分转移至包含用于第一目标分析物的第一检验的试剂的各自多个第一容器；d)自动对所述多个样本的所述部分进行所述第一检验，以根据第一测定工作流确定第一目标分析物的存在；e)从所述多个样本中选择样本子集，其中确定了所述第一目标分析物的存在；f)自动将来自e)的所选样本子集的第二部分转移至包含用于第二检验的试剂的第二容器，以根据第二测定工作流确定第二目标分析物的存在；g)自动对所选样本子集的所述第二部分进行所述第二检验，其中，对于每一个样本，所述样本、所述第一容器和用于所述第二容器的插孔位于单个检验条板上。
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