[发明专利]空隙配置构造体以及使用其的测定方法在审
| 申请号： | 201380032034.2 | 申请日： | 2013-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN104380083A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 近藤孝志;神波诚治;小川雄一 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李逸雪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对通过所述空隙配置构造体而散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，所述空隙配置构造体具有：第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。 | ||
| 搜索关键词： | 空隙 配置 构造 以及 使用 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即：通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，所述空隙配置构造体的特征在于，具有：第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。
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