[发明专利]原子吸光分析法以及原子吸光光度计有效

专利信息
申请号: 201380032129.4 申请日: 2013-06-03
公开(公告)号: CN104395733B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 户边早人;石田浩康;坂元秀之 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 丁文蕴,金成哲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在测量前阶段对注入石墨管的液体的测量试样进行干燥的原子吸光光度计中,能够判断是否适当地执行干燥,并且提供不重复几次测量,而以最低限度的测量次数获得成为目标的测量灵敏度、测量再现性。求出作为通过加热部的光的与磁场垂直的成分的参考光的吸光度,在该参考光的吸光度超过了规定的值的时间在规定的时间内的情况下,判定为存在试样的漰沸。或者,求出作为通过上述加热部的光的与磁场平行的成分的样本光的吸光度与作为通过上述加热部的光的与磁场垂直的成分的参考光的吸光度,在从上述样本光吸光度除去上述参考光吸光度的修正吸光度超过规定的值的情况下,判定为存在试样的漰沸。
搜索关键词: 原子 分析 以及 光度计
【主权项】:
一种原子吸光光度计,具备:光源;试样的加热部;使所述加热部产生磁场的磁场产生部;以通过所述试样的加热部的方式使来自所述光源的光通过并对通过的光进行分光的分光器;对通过所述分光器的光进行分离的分离部件;对所述分离的光进行检测的检测器;以及对测量结果进行显示的显示部,所述原子吸光光度计的特征在于,求出参考光的吸光度,所述参考光为通过所述加热部的光的与磁场垂直的成分,比较所述参考光的吸光度与预先设定的第一判定吸光度值,在所述参考光的吸光度超过所述第一判定吸光度值的情况下,求出从样本光的吸光度除去所述参考光的吸光度的修正吸光度,所述样本光为通过所述加热部的光的与磁场平行的成分,比较所述修正吸光度与预先设定的第二判定吸光度值,在所述修正吸光度为所述第二判定吸光度值以上的情况下,判定为存在漰沸,在经过预先设定的升温时间后结束干燥阶段而进入灰化阶段,在灰化阶段结束后,执行原子化阶段并进行测量,在测量结束后,将存在试样的漰沸的信息传达给使用者,在所述修正吸光度不是所述第二判定吸光度值以上的情况下,比较所述参考光的吸光度与预先设定的第三判定吸光度值,该第三判定吸光度值小于所述第一判定吸光度值,在所述参考光的吸光度成为所述第三判定吸光度值以下的情况下,求出所述参考光的吸光度从超过所述第二判定吸光度值到所述第三判定吸光度值以下所需的经过时间,比较该求出的经过时间与预先设定的经过时间判定时间,所述经过时间在所述预先设定的经过时间判定时间内的情况下,判定为存在漰沸,在经过预先设定的升温时间后结束干燥阶段而进入灰化阶段,在灰化阶段结束后,执行原子化阶段并进行测量,在测量结束后,将存在试样的漰沸的信息传达给使用者。
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