[发明专利]对光子计数探测器的缺陷的动态建模有效
| 申请号： | 201380034862.X | 申请日： | 2013-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN104411245B | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | R·普罗克绍 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T1/20;A61B6/03;G01T1/17 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 李光颖,王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于校正探测器(104)测量数据的由探测器(104)中的缺陷引起的影响探测器读数的准确性的误差的装置(T)及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 探测器 缺陷 动态 建模 | ||
【主权项】：
一种探测器数据处理装置，包括：‑输入接口(IU)，其用于接收由包括许多探测器箱的多箱辐射能量探测器(104)探测的测量数据、在先前与感兴趣对象(110)相互作用的辐射的测量期间探测的数据、由所述探测器(104)在针对M≥2且小于探测器箱的数量的M重材料分解的测量操作期间探测的数据；‑数据转换器(T)，其被配置为将所探测的测量数据转换成辐射衰减数据，同时校正由所述探测器(104)在所述测量操作期间改变其响应度而引起的测量误差，所述转换器(T)使用辐射‑物质相互作用模型，所述辐射‑物质相互作用模型包括：i)数据参数，其是由所述探测器箱探测的数据的参数；ii)M重材料分解变量；以及iii)探测器状态的变量，其引起所述探测器(104)的响应度的变化；所述转换器(T)被配置为针对所述材料分解变量及所述探测器状态变量对所述模型进行求解，由此实现所述校正；‑输出单元(OU)，其被配置为将所解出的材料变量输出为经校正的辐射衰减数据。
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