[发明专利]三维测定方法、装置、系统以及图像处理装置有效

专利信息
申请号: 201380034951.4 申请日: 2013-06-06
公开(公告)号: CN104395692A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 增田智纪 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G01B11/245 分类号: G01B11/245;G01C3/06
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 熊传芳;苏卉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 容易并且高精度地进行三维测定。三维测定装置(10)具备:基线长BL的第一摄像部(11)以及第二摄像部(12)、特征点检测部(21)以及对应点检测部(22)、算出表示两个摄影位置A、B的旋转以及平移方向的矩阵的旋转矩阵计算部(23)以及平移矩阵计算部(24)、核线计算部(26)、评价部(27)、三维数据计算部(28)。核线计算部(26)基于旋转矩阵以及平移矩阵、作为假设值的假想平移距离,在预定图像上算出应该通过预定的特征点的核线。评价部(27)对边改变假想平移距离边算出的多个核线是否分别通过对应点进行评价。三维数据计算部(28)利用为了算出评价为通过预定的特征点的核线而假设的假想平移距离,算出被摄体的三维数据。
搜索关键词: 三维 测定 方法 装置 系统 以及 图像 处理
【主权项】:
一种三维测定装置,具备:第一摄像部,对被摄体进行摄像;第二摄像部,相对于所述第一摄像部隔开预定的基线长而配置,对包含所述第一摄像部拍摄的所述被摄体的至少一部分在内的范围进行摄像;特征点检测部,从在第一摄影位置由所述第一摄像部以及所述第二摄像部对所述被摄体进行摄像而获得的两张图像中的至少任一张图像检测多个特征点;对应点检测部,对于在与所述第一摄影位置不同的第二摄影位置由所述第一摄像部以及所述第二摄像部对所述被摄体进行摄像而获得的两张图像中的至少任一张图像,检测与所述特征点对应的对应点;旋转矩阵计算部,算出表示以所述第一摄影位置的所述第一摄像部或者所述第二摄像部为基准的、所述第二摄影位置的所述第一摄像部或者所述第二摄像部的旋转角以及旋转方向的旋转矩阵;平移矩阵计算部,算出表示以所述第一摄影位置的所述第一摄像部或者所述第二摄像部为基准的、所述第二摄影位置的所述第一摄像部或者所述第二摄像部的平移移动方向的平移矩阵;核线计算部,基于由第一旋转矩阵、第一平移矩阵以及第一假想平移距离而确定的所述第一摄影位置以及所述第二摄影位置的各摄像部的相对位置关系,算出将从所述第一摄影位置的摄像部朝向预定的所述特征点的视线方向投影到在所述第二摄影位置得到的图像上的核线,所述第一旋转矩阵在所述旋转矩阵计算部中基于所述特征点以及所述对应点而算出,所述第一平移矩阵在所述平移矩阵计算部中基于所述特征点以及所述对应点而算出,所述第一假想平移距离是任意地假设对检测出所述特征点的图像与检测出所述对应点的图像进行了摄像的各摄像部间的距离而得到的;评价部,对边改变所述第一假想平移距离边算出的多个所述核线是否分别通过与所述特征点对应的对应点进行评价;及三维数据计算部,利用为了算出通过所述预定的特征点的所述核线而假设的所述第一假想平移距离,算出所述被摄体的三维数据。
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