[发明专利]在预定空间中检测金属物件的方法和设备有效
申请号: | 201380036625.7 | 申请日: | 2013-07-10 |
公开(公告)号: | CN104521151B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 汉斯彼得·威德默;马库斯·比特纳;卢卡斯·西贝尔;马塞尔·菲舍尔 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H04B5/00 | 分类号: | H04B5/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人: | 宋献涛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供用于检测外来物件的系统、方法和设备。在一方面中,提供一种用于检测物件的存在的设备。所述设备包括谐振电路,所述谐振电路具有谐振频率。所述谐振电路包括感测电路,所述感测电路包括导电结构。所述设备进一步包括耦合电路,所述耦合电路耦合到所述感测电路。所述设备进一步包括检测电路,所述检测电路经由所述耦合电路而耦合到所述感测电路。所述检测电路经配置以响应于检测取决于所述谐振电路正在谐振的频率的测定特性与取决于所述谐振电路的所述谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在。所述耦合电路经配置以缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路进行的所述谐振频率的变化。 | ||
搜索关键词: | 预定 空间 检测 金属 物件 系统 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种用于检测物件的存在的设备,所述设备包含:谐振电路,其具有谐振频率,所述谐振电路包含感测电路,所述感测电路包含导电结构;检测电路,其经配置以响应于检测取决于所述谐振电路正在谐振的频率的测定特性与取决于所述谐振电路的所述谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在;以及耦合电路,其经配置以通过缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路引起的所述谐振频率的变化而缩减所述检测电路对所述谐振电路的影响。
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