[发明专利]摄像透镜镜筒及其动作控制方法有效
申请号: | 201380041938.1 | 申请日: | 2013-07-18 |
公开(公告)号: | CN104541132A | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 宫下守 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244;G02B7/04;G02B7/08 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王亚爱 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种准确地检测变焦透镜的位置的摄影透镜镜筒及其动作控制方法。本发明的摄像透镜镜筒具备:镜筒主体;旋转体;磁传感器装置;相位差计算构件;校正表存储器;相位差校正构件,当根据摄像透镜镜筒的姿势而旋转体与磁传感器装置的相对位置不同于制作校正表时的位置时,根据相对位置来校正在相位差计算构件中计算出的相位差,且使用容纳于校正表中的校正值中与经校正的相位差对应的校正值来校正计算出的相位差,当根据摄像透镜镜筒的姿势而旋转体与磁传感器装置的相对位置与制作校正表时的位置相同时,使用容纳于校正表中的校正值中与在相位差计算构件中计算出的相位差对应的校正值来校正计算出的相位差;及绝对位置计算构件。 | ||
搜索关键词: | 摄像 透镜 及其 动作 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种摄像透镜镜筒,其具备:镜筒主体,将摄像透镜保持为能够沿光轴方向移动;旋转体,随着上述摄像透镜的移动而进行旋转,并且沿着周向平行地形成有第1磁标尺及第2磁标尺,上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁成分;磁传感器装置,包括第1磁传感器和第2磁传感器,并且配置于与上述旋转体的周面对置的位置,上述第1磁传感器通过上述旋转体的旋转,从上述第1磁标尺检测第1相位信号及相位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号,上述第2磁传感器通过上述旋转体的旋转,从上述第2磁标尺检测第3相位信号及相位相对于第3相位信号偏离的第4相位信号;相位差计算构件,使用在上述第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、以及在上述第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相位差;校正表存储器,存储校正表,上述校正表中与通过上述旋转体的旋转而在上述相位差计算构件中实际计算出的相位差对应地容纳有校正与上述相位差的设计值之间的差量的校正值;相位差校正构件,当根据摄像透镜镜筒的姿势而上述旋转体与上述磁传感器装置的相对位置与制作上述校正表时的位置不同时,根据上述相对位置来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差,且使用容纳于上述校正表中的校正值之中与经校正的相位差对应的校正值,来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差,当根据摄像透镜镜筒的姿势而上述旋转体与上述磁传感器装置的相对位置与制作上述校正表时的位置相同时,使用容纳于上述校正表中的校正值之中与在上述相位差计算构件中计算出的相位差对应的校正值,来校正在上述相位差计算构件中计算出的相位差;及绝对位置计算构件,根据由上述相位差校正构件校正之后的相位差、预先规定的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算上述摄像透镜的绝对位置。
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