[发明专利]电子显微镜及电子射线检测器有效

专利信息
申请号: 201380043429.2 申请日: 2013-08-09
公开(公告)号: CN104584182B 公开(公告)日: 2016-12-28
发明(设计)人: 今村伸;大岛卓;小濑洋一;平根贤一 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: H01J37/244 分类号: H01J37/244;H01J37/28
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 丁文蕴,宋春华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 在具备闪烁器(7)和光导件(8)的电子显微镜中,闪烁器(7)具有比光导件(8)的折射率大的折射率,与光导件(8)接合的端面(72)由向外侧呈凸状的曲面形成。并且,闪烁器(7)由用组成式(Ln1-xCex)3M5O12表示的Y-Al-O系陶瓷烧结体形成,其中,Ln表示选自Y、Gd、La及Lu中的至少一种元素,M表示选自Al及Ga中的至少一种元素。
搜索关键词: 电子显微镜 电子 射线 检测器
【主权项】:
一种电子射线检测器,其特征在于,具备:通过电子射线的入射而发出荧光的板状的闪烁器;以及具有比上述闪烁器的折射率小的折射率,并且对由上述闪烁器发出的荧光进行导光的光导件,上述闪烁器的端面的一部分由向外侧呈凸状的曲面形成,上述闪烁器经由上述凸状的曲面的端面与上述光导件接合,上述闪烁器端面之中除了与上述光导件接合的端面以外的端面,是平面或向上述闪烁器的内侧呈凹状的曲面。
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