[发明专利]用于漫反射光度分析的测量模块及其制造方法在审
| 申请号： | 201380044734.3 | 申请日： | 2013-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN104704347A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 简·布赫瓦尔德;苏珊·高米茨;斯特凡·卡尔维拉姆;塞巴斯蒂安·特里克 | 申请（专利权）人： | 业纳聚合物系统有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G02B5/20;H01L31/167 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 德国特里*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于一个试样(9)或多个试样的漫反射光度分析的测量模块(1)，包括：一个发送器(7)，该发送器具有用于向试样(9)的位置发送测量辐射(12a)的发送通道(3)；一个第一聚焦装置(5)，用于将测量辐射聚焦到试样上；一个接收器(8)，该接收器具有用于接收由试样反射的辐射(12b)的接收通道(4)；一个第二聚焦装置(6)，由塑料制成，用于将由试样反射的测量辐射聚焦到接收器(8)上，其中，该第二聚焦装置(6)还包括一个滤光器(11)，该滤光器被设计成用于过滤由测量辐射激发的来自试样的荧光辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 漫反射 光度 分析 测量 模块 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种用于一个试样(9)或多个试样的漫反射光度分析的测量模块(1)，包括：一个发送装置(7)，该发送装置具有用于向该试样(9)的位置发送一束测量辐射(12a)的一个发送通道(3)；一个第一聚焦装置(5)，用于将该测量辐射聚焦到该试样上；一个接收装置(8)，该接收装置具有用于接收由该试样反射的辐射(12b)的一个接收通道(4)；一个第二聚焦装置(6)，由塑料制成，用于将由该试样反射的测量辐射聚焦到该接收装置(8)上；其特征在于，该第二聚焦装置(6)还包括一个滤光器(11)，该滤光器用于过滤由该测量辐射激发的一个次级辐射，诸如例如该试样的自发荧光、该光源或发送装置的次极大值、环境光或该试样的类似辐射。
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