[发明专利]基于光学3D场景检测与解释的患者特异性且自动的X射线系统调节有效
申请号: | 201380044874.0 | 申请日: | 2013-08-26 |
公开(公告)号: | CN104602608B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | S·A·约克尔;C·库尔策;D·曼克 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/08 | 分类号: | A61B6/08;A61B6/00;A61B6/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种装置(130)与方法,用于自动或半自动地控制X射线成像器(100)的准直器(COL)以准直成像器(100)的X射线束,并调节所述X射线成像器(100)关于目标(PAT)的对准。所述准直和对准操作基于要被成像的所述目标(PAT)的3D图像数据(3DI)。所述3D图像数据(3DI)是由传感器(S)采集的。传感器(S)以非电离辐射操作。所述3D图像数据(3DI)描述所述目标(PAT)的3D形状,并且解剖标志是从其导出的,以限定针对感兴趣区域(ROI)的准直窗口(W)。基于所述准直窗口(W),相应地调节所述准直器(COL)的设定和成像器(100)对准。 | ||
搜索关键词: | 基于 光学 场景 检测 解释 患者 特异性 自动 射线 系统 调节 | ||
【主权项】:
1.一种成像器控制装置,包括:输入端口(IN),其用于接收在目标(PAT)处于成像器(100)的X射线源(XR)与所述成像器的X射线探测器(D)之间时由传感器(S)在对所述目标的3D调查中感测的3D图像数据,如此接收的所述3D图像数据包括随着所述目标(PAT)的外表面变化的空间深度信息,所述3D图像数据描述所述目标(PAT)的3D形状;3D图像数据分析器(3DA),其被配置为(i)根据接收到的3D图像数据来计算目标(PAT)的解剖标志数据,以如此获得成像器控制数据以控制所述成像器(100),其中,所计算的成像器控制数据包括划界数据,所述划界数据对针对所述目标的感兴趣区域(ROI)的成像器窗口(W)进行划界;并且(ii)确立所述目标的解剖标志的位置数据,所述划界数据基于所述解剖标志的所述位置数据;控制单元(CU),其被配置为使用所计算的成像器控制数据以基于所述目标的所述解剖标志的所述位置数据而在对所述目标的图像采集之前或期间控制所述成像器(100)的操作,所述成像器的所述操作包括针对从所述X射线源发出的X射线束的准直操作。
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