[发明专利]用于自动校正膜片架上的晶圆的旋转错位的系统和方法有效
申请号: | 201380045373.4 | 申请日: | 2013-09-02 |
公开(公告)号: | CN104718607B | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 林靖 | 申请(专利权)人: | 联达科技设备私人有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 新加坡加冷盆地工*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 自动地校正未适当地安装在膜片架上的晶圆的旋转错位包括在检查系统开始晶圆检查过程之前,使用图像捕获装置捕获晶圆的多个部分的图像;数字地确定晶圆相对于膜片架和/或图像捕获装置的视野的一组参考轴的旋转错位角度和旋转错位方向;以及借助于与检查系统分离的膜片架操持设备校正晶圆的旋转错位,所述晶圆操持设备被构造为在与旋转错位方向相反的方向上将膜片架旋转旋转错位角度。能够在没有减少膜片架操持吞吐量或检查处理吞吐量的情况下,在将膜片架放置在晶圆台上之前进行这样的膜片架旋转。 | ||
搜索关键词: | 用于 自动 校正 膜片 架上 旋转 错位 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于操持安装在膜片架上的晶圆的系统,所述系统包括:晶圆台,所述晶圆台提供被构造为在其上牢固地保持膜片架的晶圆台表面;晶圆检查系统,所述晶圆检查系统具有第一图像捕获装置,所述第一图像捕获装置被构造为对于安装在膜片架上并且由所述晶圆台表面保持的晶圆执行检查过程;第二图像捕获装置,所述第二图像捕获装置被构造为捕获安装在所述膜片架上的晶圆的多个部分的至少一个图像;处理单元,所述处理单元被构造为通过执行对所述至少一个图像执行图像处理操作的程序指令来分析安装在所述膜片架上的所述晶圆的多个部分的所述至少一个图像,以确定所述晶圆相对于所述膜片架或所述第一图像捕获装置或所述第二图像捕获装置的视野的旋转错位角度和旋转错位方向;以及膜片架操持设备,所述膜片架操持设备被构造为将其上安装所述晶圆的膜片架传输到所述晶圆台表面,其中,确定晶圆的旋转错位角度和旋转错位方向包括分析存在于晶圆上的多个第一和第二线性特征,第一和第二线性特征彼此垂直,其中,所述膜片架操持设备被进一步构造为旋转所述膜片架以校正所述晶圆相对于所述膜片架、所述第一图像捕获装置和/或所述第二图像捕获装置的任何旋转错位。
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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