[发明专利]红外无损评估方法和设备在审
| 申请号： | 201380046134.0 | 申请日： | 2013-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN104603589A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | E.巴莱尼;J.F.兰迪;C-P.李;S.斯蒂内利 | 申请（专利权）人： | 西门子能量股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/52;H04N5/33 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 美国佛*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种无损评估的方法和相关系统。该方法包括将具有内部通道(18)和外表面(15)的试件(14)以及热校准器(12)布置在红外传感器(44)的视场(42)内；产生由流体温度表征的流体流(16)；使试件内部通道(18)和所述热校准器(12)暴露于来自所述流(16)的流体；使用所述红外传感器(44)同时捕获试件外表面(15)和所述热校准器(12)的红外发射信息，其中，试件红外发射信息包括发射强度信息，并且其中，热校准器红外发射信息包括与所述流体温度相关联的对照发射强度；以及使试件发射强度信息针对对照发射强度标准化。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 无损 评估 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种无损评估的方法，包括：将包括内部通道和外表面的试件以及热校准器布置在红外传感器的视场内；产生由流体温度表征的流体流；使试件内部通道和所述热校准器暴露于来自所述流的流体；使用所述红外传感器同时捕获试件外表面和所述热校准器的红外发射信息，其中，试件红外发射信息包括发射强度信息，并且其中，热校准器红外发射信息包括与所述流体温度相关联的对照发射强度；以及使试件发射强度信息针对对照发射强度标准化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子能量股份有限公司;，未经西门子能量股份有限公司;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380046134.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：取样夹具、定量分析方法以及分析系统
- 下一篇：用于能量生产的装置
