[发明专利]形成氧化硅纳米图案的方法,形成金属纳米图案的方法以及使用其的信息存储用磁性记录介质有效
申请号: | 201380046681.9 | 申请日: | 2013-09-05 |
公开(公告)号: | CN104662641B | 公开(公告)日: | 2017-03-22 |
发明(设计)人: | 韩阳奎;李济权;李显振;金鲁马;尹圣琇;申恩知;郑连植 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学;汉阳大学校产学协力团 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 顾晋伟,蔡胜有 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及形成氧化硅纳米图案的方法、形成金属纳米图案的方法以及使用该纳米图案的信息存储用磁性记录介质,所述方法可易于形成纳米点或纳米孔型纳米图案,并且使得使用所述纳米图案形成的金属纳米图案等适用于用于信息存储等的新一代磁性记录介质。形成氧化硅纳米图案的方法包括在基底上的氧化硅上形成嵌段共聚物薄膜的步骤,所述嵌段共聚物包括预定的硬链段以及具有基于(甲基)丙烯酸酯的重复单元的软链段;对准所述薄膜的步骤;从所述嵌段共聚物薄膜选择性地移除所述软链段的步骤;以及使用已移除软链段的嵌段共聚物薄膜作为掩膜通过在所述氧化硅上进行反应离子蚀刻形成氧化硅的纳米点或纳米孔图案。 | ||
搜索关键词: | 形成 氧化 纳米 图案 方法 金属 以及 使用 信息 存储 磁性 记录 介质 | ||
【主权项】:
一种形成氧化硅纳米图案的方法,包括如下步骤:在基底的氧化硅上形成嵌段共聚物的薄膜,所述嵌段共聚物包括包含以下化学式1的重复单元的硬链段和包含以下化学式2的基于(甲基)丙烯酸酯的重复单元的软链段;从所述嵌段共聚物的薄膜选择性除去所述软链段;以及使用已除去所述软链段的所述嵌段共聚物的薄膜作为掩膜,进行氧化硅的反应离子蚀刻,以形成氧化硅纳米点图案或纳米孔图案:[化学式1][化学式2]在化学式1中,n为5至600的整数,R为氢或甲基,R’为X、或者X为–Z‑R”,Y为具有1至10个碳原子的亚烷基,Z为具有6至20个碳原子的亚芳基,R”为具有10至20个碳原子的直链或支化的烃基,或具有10至20个碳原子的直链或支化的全氟代烃基,并且在化学式2中,m为30至1000的整数,R1为氢或甲基,R2为具有1至20个碳原子的烷基。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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