[发明专利]运用二维特征的侧向层析检测有效

专利信息
申请号: 201380046764.8 申请日: 2013-07-17
公开(公告)号: CN104619418B 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 布伦丹·奥法雷尔;托马斯·C·蒂森 申请(专利权)人: SYMBOLICS有限责任公司
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00;G01N33/543;G01N33/558
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司11129 代理人: 吴泳历
地址: 美国加利福*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及运用二维特征,优选均一的二维检测和对照特征的新型侧向层析装置,提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。本发明还涉及利用所述侧向层析装置提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息的方法。
搜索关键词: 运用 二维 特征 侧向 层析 检测
【主权项】:
一种检测装置,所述装置包括基质上的多个试剂点,其中至少两个所述试剂点不重叠且彼此充分间隔,以便当液体沿着所述基质侧向层析时,朝向、经过和/或围绕所述两个试剂点中的一个的所述液体的流动基本上不影响朝向、经过和/或围绕所述另一个试剂点的所述液体样品的流动,所述两个试剂点中的每一个既不是在垂直于所述液体层析方向的方向上横跨所述基质整个宽度的试剂线,也不是环绕所述检测装置的中心或样品/液体施加位点的试剂线组成的完整的圆,并且在液体沿所述检测装置侧向层析并通过所述至少两个试剂点后,在所述至少两个试剂点处形成检测信号:1)从而提供层析对照信息,并2)i)作为内部对照或为所述检测装置提供内部校准信息,或ii)作为内部对照并为所述检测装置提供内部校准信息,并且其中所述内部校准信息用于分析物的定量。
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