[发明专利]多孔径超声探头的校准有效
申请号: | 201380047310.2 | 申请日: | 2013-08-12 |
公开(公告)号: | CN104620128B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | J·R·卡尔;N·W·奥斯伯恩;A·比尔维驰;B·R·里特兹 | 申请(专利权)人: | 毛伊图像公司 |
主分类号: | G01S15/89 | 分类号: | G01S15/89;G01S15/02;A61B8/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 基于ping的超声成像的质量依赖于信息的准确性,该信息描述发射换能器元件和接收换能器元件的精确声学位置。提高换能器元件位置数据的质量可以显著提高基于ping的超声图像特别是使用多孔径超声成像探头(即,具有比任何预期的最大相干孔径宽度更大的总孔径的探头)获得的基于ping的超声图像的质量。描述了用于校准用于探头的元件位置数据的各种系统和方法。 | ||
搜索关键词: | 多孔 超声 探头 校准 | ||
【主权项】:
一种校准超声探头的方法,包括以下步骤:在适当位置放置所述超声探头的第一阵列和第二阵列以对幻象进行成像,所述第一阵列和所述第二阵列中的每个阵列具有多个换能器元件;用所述第一阵列对所述幻象进行成像以获得参考图像,其中成像依赖于描述所述第一阵列的每个换能器元件的位置的数据;用所述第二阵列对所述幻象进行成像以获得测试图像,其中成像依赖于描述所述第二阵列的每个换能器元件的位置的数据;量化在所述参考图像与所述测试图像之间的第一误差;迭代地优化描述所述第二阵列的每个换能器元件的所述位置的所述数据,直至所述第一误差处于最小值。
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