[发明专利]具有提高耐久性的密封余量的袋式二次电池有效

专利信息
申请号: 201380047505.7 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN104662697A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: 朴承烨;申荣埈;朴孝锡;金智善 申请(专利权)人: 株式会社LG化学
主分类号: H01M2/08 分类号: H01M2/08
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 高伟;陆弋
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种袋式二次电池,其具有提高耐久性的密封余量,并且包括通过沿着袋壳封装材料使上袋膜和下袋膜的密封层熔融而形成的密封区域。密封余量的距离是从交叉点到密封区域的边界线测量的距离,其中,所述交叉点在第一直线和第二直线之间,所述第一直线基于二次电池的横截面从密封区域的表面水平延伸,并且所述第二直线对应于能够形成在与所述密封区域相邻的袋壳封装材料的截面倾斜线上的每个点处的切线中的具有平均倾斜度的切线,并且密封余量比从密封区域流出的密封残余物的移动距离大。
搜索关键词: 具有 提高 耐久性 密封 余量 二次 电池
【主权项】:
一种袋式二次电池,在该袋式二次电池中,单元电池组件被袋壳包围,所述袋壳包括上袋膜和下袋膜,所述上袋膜和所述下袋膜中的每一个至少由外保护层、金属衬底和密封层的层压物形成,并且所述袋壳通过热密封过程来密封,所述袋式二次电池包括:密封区域,所述密封区域通过沿着所述袋壳的边缘使所述上袋膜和所述下袋膜的所述密封层熔融来形成,其中,密封余量比从所述密封区域流出的密封残余物的移动距离大,所述密封余量是从第一直线和第二直线的交叉点到所述密封区域的边界线测量的距离,当在所述二次电池的横截面中观察时,所述第一直线从所述密封区域的表面水平地延伸,并且所述第二直线对应于在与所述密封区域相邻的所述袋壳的横截面斜坡线上的每一点处的可能切线中的具有平均倾斜度的切线。
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