[发明专利]半导体装置以及使用该半导体装置的电流检测电路在审
| 申请号： | 201380048083.5 | 申请日： | 2013-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN104641557A | 公开（公告）日： | 2015-05-20 |
| 发明（设计）人： | 关川贵善 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/08 | 分类号： | H03K17/08 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王颖;金玉兰 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体装置以及使用该半导体装置的电流检测电路。本发明能够防止与过电流有关的误检测，并且无需不感测时间而对主元件的电流是否为过电流进行判断。在使主元件100导通时，向感测元件200的栅极施加指示比主元件100早导通的栅极信号，通过在主元件200中流过电流之前产生由感测元件100的栅极输入部的微分电路引起的过冲，防止与过电流有关的误检测，并且能够无需不感测时间而对主元件100的电流是否为过电流进行判断。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 以及 使用 电流 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，其特征在于，在同一半导体基板上具有主元件和用于检测流过所述主元件的电流的感测元件，所述主元件的集电极端子和所述感测元件的集电极端子相互连接，当使所述主元件导通时，向所述感测元件的栅极施加指示比所述主元件提前导通的栅极信号。
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