[发明专利]苛刻环境的光学元件保护有效
申请号: | 201380051709.8 | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN104838729B | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | A·I·叶尔绍夫;N·R·鲍尔林;B·拉方丹;S·德地 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | H05G2/00 | 分类号: | H05G2/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 王茂华,郑振 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于保护光学元件,特别是反射性光学元件免于在苛刻环境(例如,EUV光源的真空室内的环境)中使它们光学性质劣化的光学元件保护系统。系统包括在各层中使用材料的组合,其中对材料进行选择并对层进行配置和布置,以延长光学元件的寿命而不损害其光学性质。 | ||
搜索关键词: | 苛刻 环境 光学 元件 保护 | ||
【主权项】:
一种用于反射远紫外辐射的光学元件,所述光学元件包括:至少两种介电材料的交替层的堆叠;以及布置在所述堆叠的最外层上的保护层,其中,所述保护层包含Al2O3。
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