[发明专利]辐射摄影成像装置和方法在审
申请号: | 201380053218.7 | 申请日: | 2013-10-03 |
公开(公告)号: | CN104718464A | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;G21K1/04;H01J35/10 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种辐射摄影成像装置和一种对应的辐射摄影成像方法。提出的装置包括X射线源(20、108)和光子计数X射线探测器(40、110)。所述X射线源(20、108)包括:旋转X射线阳极(23),其具有若干径向裂缝和被提供在所述旋转X射线阳极的表面上在所述径向裂缝之间的靶层,用于在由所述电子束撞击时发射X射线辐射。所述光子计数X射线探测器(40、110)包括持续电流感测和校正单元(70),所述持续电流感测和校正单元(70)用于感测在消隐间隔中的持续输出电流并且用于使用感测到的持续输出电流来对在后续测量间隔中的探测器信号进行校正,在所述消隐间隔期间没有X射线辐射由所述X射线源发射,在所述后续测量间隔期间X射线辐射由所述X射线源发射。 | ||
搜索关键词: | 辐射 摄影 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种辐射摄影成像装置,包括:X射线源(20、108),其用于将X射线辐射投影到检查区域(30、106)中;以及光子计数X射线探测器(40、110),其用于在X射线辐射经过所述检查区域之后接收X射线辐射并且将接收到的X射线辐射转换为探测器信号,其中,所述X射线源(20、108)包括:‑阴极(21),其用于发射电子束,‑旋转X射线阳极(23),其具有若干径向裂缝和被提供在所述旋转X射线阳极的表面上在所述径向裂缝之间的靶层,用于在由所述电子束撞击时发射X射线辐射,以及‑驱动单元(27),其用于使所述X射线阳极旋转,并且其中,所述光子计数X射线探测器(40、110)包括:‑直接转换X射线探测单元(50),其用于接收所述X射线辐射并且输出电信号,‑光子计数单元(60),其用于根据所述电信号来生成表示接收到的X射线辐射的光子的数量的所述探测器信号,以及‑持续电流感测和校正单元(70),其用于感测在消隐间隔中的持续输出电流,并且用于使用感测到的持续输出电流来对在后续测量间隔中由所述光子计数单元生成的探测器信号进行校正,在所述消隐间隔期间没有X射线辐射由所述X射线源发射,在所述后续测量间隔期间X射线辐射由所述X射线源发射。
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