[发明专利]一种用于控制半导体开关的方法和开关装置在审
| 申请号： | 201380055187.9 | 申请日： | 2013-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN104718701A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | U.布利;C.霍恩施泰因;K.屈嫩;E.泰施特拉 | 申请（专利权）人： | 大陆泰密克微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | H03K4/02 | 分类号： | H03K4/02;H03K17/082 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 卢江,胡莉莉 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请的主题涉及一种用于借助控制信号通过受控的、分阶段的接通和关断来控制可控的半导体开关（HS1）的方法。所述方法具有下述步骤。在分阶段的接通和关断的至少一个阶段开始时，开始进行时间测量以用于确定持续时间，其中时间测量一直持续到分阶段的接通和关断的跟随所述至少一个阶段的阶段开始。此外，将确定的持续时间与预设的最大的持续时间进行比较。如果确定的持续时间超过预设的最大的持续时间，那么进行对半导体开关（HS1）的控制，使得半导体开关（HS1）被切换到预设的运行状态中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 控制 半导体 开关 方法 装置 | ||
【主权项】：
用于借助控制信号通过受控的、分阶段的接通和关断来控制可控的半导体开关（HS1）的方法，其中所述方法具有下述方法步骤：??在所述分阶段的接通和关断的至少一个阶段开始时，开始时间测量，以用于确定持续时间，其中所述时间测量一直继续直到所述分阶段的接通和关断的跟随所述至少一个阶段的阶段开始，??将所确定的持续时间与预设的最大的持续时间进行比较，??如果所确定的持续时间超过预设的最大的持续时间，那么控制所述半导体开关（HS1），使得所述半导体开关（HS1）被切换到预设的运行状态中。
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