[发明专利]用于为沉积物中出现的包合物确定最小孔隙率的方法和系统在审
| 申请号： | 201380056025.7 | 申请日： | 2013-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN104755965A | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | H·C·戴格尔;J·T·巴尔斯泽斯基 | 申请（专利权）人： | 雪佛龙美国公司 |
| 主分类号： | G01V9/00 | 分类号： | G01V9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用于确定是否存在出现包合物的条件的方法和系统。一种方法包括至少部分基于温度达到包合物的三相平衡温度的深度来确定包合物稳定区的厚度。所述方法还包括针对所述包合物稳定区的深度范围计算温度和三相平衡温度，以及确定所述深度范围中每个深度处的最小孔尺寸，所述最小孔尺寸允许包合物的预定饱和度水平并且至少部分基于所述温度和三相平衡温度。所述方法还包括将每个深度处的最小孔尺寸转换成最小孔隙率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 沉积物 出现 包合物 确定 最小 孔隙率 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种确定是否存在出现包合物的条件的方法，所述方法包括：至少部分基于温度达到包合物的三相平衡温度的深度来确定包合物稳定区的厚度；针对所述包合物稳定区的深度范围计算温度和三相平衡温度；确定所述深度范围中每个深度处的最小孔尺寸，所述最小孔尺寸允许包合物的预定饱和度水平并且至少部分基于所述温度和三相平衡温度；以及将每个深度处的最小孔尺寸转换成最小孔隙率。
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