[发明专利]组合共焦X射线荧光和X射线计算机断层扫描的系统和方法有效
| 申请号： | 201380056545.8 | 申请日： | 2013-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN104769422B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·费泽;斯里瓦特桑·塞萨德里 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司X射线显微镜公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N33/24 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开使用组合的X射线计算机断层扫描(CT)/X射线荧光(XRF)系统对样本(104)进行相关性评估，还公开一种使用X射线CT和XRF分析样本(104)的方法。CT/XRF系统(10)包括用于获取体积信息的X射线CT子系统(100)和用于获取元素组成信息的XRF子系统(102)。几何校准被执行于XRF子系统(102)和X射线CT子系统(100)之间，从而X射线CT获取期间定义的感兴趣区域能被XRF子系统(102)恢复，以便随后的XRF的获取。系统(10)结合了X射线CT的亚微米空间分辨率三维成像能力和共焦XRF的元素组成分析，以提供样本(104)ppm级灵敏度的三维元素组成分析。这适用于许多科研和工业应用，其典型例子就是采矿工业中破碎及研磨原矿和浮选尾矿中的贵金属颗粒元素识别。 | ||
| 搜索关键词： | 元素组成 样本 共焦 感兴趣区域 贵金属颗粒 空间分辨率 采矿工业 浮选尾矿 工业应用 几何校准 三维成像 体积信息 元素识别 分析 研磨 灵敏度 中破碎 三维 评估 科研 恢复 | ||
【主权项】：
一种X射线计算机断层扫描(CT)/X射线荧光(XRF)系统，其特征在于，包括：X射线CT子系统，用于获取体积信息；共焦XRF子系统，用于获取元素组成信息；控制器，所述控制器分别与所述X射线CT子系统和所述共焦XRF子系统有通信，其中所述控制器管理由所述X射线CT子系统和所述共焦XRF子系统获取的信息；和可切换的源光学元件，所述源光学元件被所述控制器控制，用于将X射线源从CT模式切换到共焦XRF模式；在所述共焦XRF模式下，所述源光学元件运行以控制和指令遍及宽范围角度的X射线和来自源的能量，从而在样本的感兴趣区域上产生小聚焦辐射束；其中所述控制器从体积信息中选择预定的有限数量的点或小区域，以便所述共焦XRF子系统获取所述元素组成信息。
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