[发明专利]用于探测伽玛辐射的系统如伽玛摄像机和方法有效

专利信息
申请号: 201380058262.7 申请日: 2013-11-08
公开(公告)号: CN104823073B 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: A·伊尔蒂斯 申请(专利权)人: A·伊尔蒂斯
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及用于探测伽玛辐射的系统,如伽玛摄像机,所述系统包括伽玛射线源;至少一块快速闪烁体板P1,所述闪烁体上升到光峰的时间小于1纳秒,所述板包括扩散进入表面和抛光退出表面、具有的厚度不小于10毫米、被提供有光电探测器和专用读取微电子设备,其特征在于微电子设备是ASIC类型,在于探测器被分段,并在于,在所述板P1上,所述探测器的每个分段能够测量第一触发T1,从而时间分辨率小于100皮秒;所述探测器能够在大于100皮秒但不大于到闪烁体的光峰的上升时间的时间上测量所述探测器上的事件发射的第一相邻光子的空间和时间分布。本发明进一步涉及在所述系统中实现的图像重构方法以及所述系统的实现和用途。本发明附加地涉及图像重构方法和用于提高安装在系统中的探测器的能量分辨率的方法以及所述系统的实现。
搜索关键词: 用于 探测 辐射 系统 如伽玛 摄像机 方法
【主权项】:
1.一种用于探测伽玛辐射的伽玛摄像机类型的系统,所述系统包括伽玛射线源、至少一块快速闪烁体的板P1,所述闪烁体到光峰的上升时间小于1纳秒,所述板P1具有散射进入表面和抛光退出表面、具有小于或等于10毫米的厚度、装配有分段的光电探测器和专用读取微电子设备,其特征在于,所述专用读取微电子设备是专用集成电路类型,即ASIC类型,其中,在所述板P1上,所述光电探测器的每个分段适于测量第一触发T1,所述第一触发T1对应于通过闪烁发射的第一紫外射线对所述板P1的作用时间,其具有小于100皮秒的时间分辨率,其中,所述光电探测器适于在大于100皮秒但小于或等于到所述闪烁体的所述光峰的所述上升时间的时间上测量所述光电探测器上的事件发射的第一相邻光子的空间和时间分布,因此,所述光电探测器适于空间定位所述事件“e1”使其具有坐标(X1,Y1),并且其中,所述系统进一步适于处理非散射光子和散射光子之间的空间和时间分布差,以便重构所述闪烁事件的时空坐标(X,Y,Z,T),其中所述非散射光子是探测到的第一光子,并且所述非散射光子分布在圆盘内,所述圆盘的半径取决于相互作用的深度(Z),并且其中所述圆盘的中心表示所述事件的位置(X,Y)。
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