[发明专利]温度计和用于加工温度计的方法有效
| 申请号： | 201380059147.1 | 申请日： | 2013-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN104769401B | 公开（公告）日： | 2018-04-24 |
| 发明（设计）人： | J.伊勒;G.克洛伊贝尔 | 申请（专利权）人： | 埃普科斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K1/08 | 分类号： | G01K1/08;G01K7/22 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 赵辛,宣力伟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明给出一个温度计（1），它具有陶瓷功能的感应元件（2）和陶瓷外壳（3）。所述感应元件（2）这样设置在陶瓷外壳（3）里面，使所述感应元件（2）的至少一侧面（20）具有与陶瓷外壳（3）直接且形状锁合的接触。还给出一种用于加工温度计（1）的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 温度计 用于 加工 方法 | ||
【主权项】：
一种温度计(1)，具有陶瓷功能的感应元件(2)和陶瓷外壳(3)，其中，所述感应元件(2)设置在陶瓷外壳(3)里面，使所述感应元件(2)的至少一侧面(20)具有与陶瓷外壳(3)直接且形状锁合的接触，其中，所述温度计(1)具有两个接触部件(4)，它们位于所述感应元件(2)的对置的两侧，其中，所述陶瓷外壳(3)具有带有凹下的凹穴(31)，其中，所述凹下在形状和大小方面适配于所述感应元件(2)，并且其中所述接触部件(4)在凹下的顶视图中位于所述凹下的侧面。
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