[发明专利]利用反射太赫兹辐射计算材料属性

摘要

用于解译太赫兹辐射的系统包括配置为输出太赫兹辐射的脉冲的太赫兹发射器以及配置为从太赫兹发射器接收辐射脉冲的至少一部分的太赫兹接收器。太赫兹接收器配置为基于由太赫兹接收器接收的辐射输出信号。

主权项

一种用于解译太赫兹辐射的系统，所述系统包括：太赫兹发射器，配置为通过第一端口输出太赫兹辐射的脉冲；太赫兹接收器，配置为通过所述第一端口接收所述太赫兹辐射的脉冲的至少一部分，其中所述太赫兹接收器配置为基于由所述太赫兹接收器接收的辐射输出信号；第一光学界面，向所述太赫兹辐射的脉冲提供光学干涉，其中所述第一光学界面将把第一光学界面反射的所述太赫兹辐射的脉冲的部分反射至所述太赫兹接收器；第二光学界面，向所述太赫兹辐射的脉冲提供光学干涉，其中所述第二光学界面将把第二光学界面反射的所述太赫兹辐射的脉冲的部分反射至所述太赫兹接收器；所述第一光学界面与所述第二光学界面之间限定的间距，所述间距被配置为接收要由所述太赫兹辐射的脉冲的至少一部分照射的样本；其中所述样本将把所述太赫兹辐射的脉冲的第一被样本反射的部分反射至所述太赫兹接收器，以及将把所述太赫兹辐射的脉冲的第二被样本反射的部分反射至所述太赫兹接收器；其中所述太赫兹发射器和太赫兹接收器设置为在壳体中基本上彼此邻近；以及处理器，与所述太赫兹接收器通信并且配置为从所述太赫兹接收器接收所述信号，所述处理器被配置为基于所述信号确定所述样本的卡标厚度、密度、折射率或者质量。