[发明专利]用于实施X-射线荧光分析的方法和设备有效
| 申请号： | 201380062406.6 | 申请日： | 2013-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN104956211B | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | J.凯斯勒 | 申请（专利权）人： | 赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杜荔南;张懿 |
| 地址： | 德国辛*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于实施X‑射线荧光分析的方法，其中初级辐射（16）从X‑射线辐射源（14）对准样本主体（12），其中从样本主体（12）发射的次级辐射（18）由检测器（20）检测并且由评估单元（21）评估，其中具有形成滤波器层级的至少一个滤波器层（25）的至少一个滤波器（23）被引入到次级辐射（18）的射束路径中并且根据滤波器层（25）相对于次级辐射（18）的角度α充当带通滤波器，并且次级辐射（18）的破坏性波长通过布拉格反射被去耦，滤波器（23）的滤波器层（25）的角度α利用调整设备（31）被调整以用于通过布拉格反射来反射次级辐射（18）的至少一个破坏性波长，并且次级辐射（18）的去耦的波长由第二检测器（32）检测，并且由此标识的信号被转发到评估单元（21）。 | ||
| 搜索关键词： | 滤波器 次级辐射 波长 布拉格反射 评估单元 去耦 样本 检测器 带通滤波器 第二检测器 方法和设备 射线辐射源 初级辐射 调整设备 射束路径 射线荧光 检测 层级 反射 对准 分析 转发 发射 引入 评估 | ||
【主权项】：
1.用于实施X‑射线荧光分析的方法，其中初级辐射（16）从X‑射线辐射源（14）对准样本主体（12），其中从样本主体（12）发射的次级辐射（18）由检测器（20）检测并且由评估单元（21）评估，其特征在于，‑具有形成滤波器层级的至少一个滤波器层（25）的至少一个滤波器（23）被引入到次级辐射（18）的射束路径中并且根据滤波器层（25）相对于次级辐射（18）的角度α充当带通滤波器，并且次级辐射（18）的破坏性波长通过布拉格反射被去耦，‑滤波器（23）的滤波器层（25）的角度α利用调整设备（31）被调整以用于通过布拉格反射来反射次级辐射（18）的至少一个破坏性波长，并且次级辐射（18）的去耦的波长由第二检测器（32）检测，并且由此标识的信号被转发到评估单元（21）。
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