[发明专利]光子计数X-射线探测器单元和探测器有效
| 申请号： | 201380063157.2 | 申请日： | 2013-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN104838289B | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | A·J·M·内利森;F·韦尔巴凯尔;J·H·克鲁特威克;H·K·维乔雷克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及甚至在高通量条件下有效地抑制极化的光子计数X‑射线探测器和探测方法。提出的探测器包括：光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X‑射线光子而生成电子‑空穴对；阴极电极(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X‑射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；1a、51b)；像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)；电源(13)，其用于在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，并且所述电源用于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压；以及读出单元(14)，其用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 射线 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种光子计数X‑射线探测器单元包括：‑光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X‑射线光子而生成电子‑空穴对，‑阴极电极(11、21、31)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X‑射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，‑像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)，其中，所述像素化阳极电极(12)被配置用于耦合到读出单元(14)，所述读出单元用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号，其中，所述光子计数X‑射线探测器单元被配置为响应于在所述阳极电极(12)与所述阴极电极(11、21、31)之间施加的偏置电压而使电荷载子从所述阴极电极(11、21、31)朝向所述阳极电极(12)漂移，并且所述光子计数X‑射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时注入所述电荷载子，其中，所述偏置电压和所述暂时施加的注入电压是由电源(13)施加的。
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