[发明专利]测试系统和方法在审
| 申请号： | 201380067331.0 | 申请日： | 2013-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN104884949A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | D.S.格罗宁格;R.C.沃德;F.X.德弗罗蒙特;C.M.谢菲尔 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N29/00 | 分类号： | G01N29/00;G01N21/00;G01N23/00;G09B19/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶晓勇;姜甜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供在进行结构的测试中使用的测试系统以及用于配置测试系统的方法。该测试系统包括测试装置，其包括呈现接口、用户输入接口、存储器装置以及耦合成与呈现接口、用户输入接口和存储器装置进行通信的处理器。处理器使测试装置在测试会话之前向用户呈现用于使用测试装置进行测试会话的至少一个示范指令以及供用户使用该装置进行测试会话时使用的至少一个测试指令。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种供进行结构的测试中使用的测试系统，包括：测试装置，包括： 呈现接口； 用户输入接口； 存储器装置；以及 处理器，耦合成与所述呈现接口、所述用户输入接口和所述存储器装置进行通信，所述处理器编程为使所述测试装置： 在测试会话之前向用户呈现用于使用所述测试装置进行测试会话的至少一个示范指令；以及 在测试会话期间向所述用户呈现使用所述测试装置的至少一个测试指令。
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