[发明专利]光检测设备、包括该光检测设备的光检测封装、以及包括该光检测封装的便携设备在审
| 申请号： | 201380068774.1 | 申请日： | 2013-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN104995751A | 公开（公告）日： | 2015-10-21 |
| 发明（设计）人： | 朴起延;金华睦;孙暎丸;俆大雄 | 申请（专利权）人： | 首尔伟傲世有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/101 | 分类号： | H01L31/101 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 尹淑梅 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明的示例性实施例涉及一种光检测设备，其包括：衬底；设于衬底上的第一光吸收层；设在第一光吸收层上的第一区域中的第二光吸收层；设在第二光吸收层上的第二区域中的第三光吸收层；以及设在第一、第二和第三光吸收层中的每一个上的第一电极层。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 设备 包括 封装 以及 便携 | ||
【主权项】：
一种光检测设备，包括：衬底；设于衬底上的第一光吸收层；设在第一光吸收层上的第一区域中的第二光吸收层；以及设在第一和第二光吸收层中的每一个上的第一电极层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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