[发明专利]硫化物固体电解质材料、电池和硫化物固体电解质材料的制造方法在审
申请号: | 201380069290.9 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN104885288A | 公开(公告)日: | 2015-09-02 |
发明(设计)人: | 加藤祐树;大崎真由子 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社 |
主分类号: | H01M10/0562 | 分类号: | H01M10/0562;H01B1/06;H01B13/00;H01M4/62;H01M10/052 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的课题在于提供离子传导性良好且抑制了充放电效率下降的硫化物固体电解质材料。本发明通过提供以如下为特征的硫化物固体电解质材料来解决上述课题:含有Li元素、Si元素、P元素、S元素和O元素,在使用了CuKα射线的X射线衍射测定中的2θ=29.58°±0.50°的位置具有峰,不具有2θ=27.33°±0.50°的峰,在将上述2θ=29.58°±0.50°的峰的衍射强度设为IA、将上述2θ=27.33°±0.50°的峰的衍射强度设为IB时,IB/IA的值为1以下,所述O元素相对于所述S元素和所述O元素的总计的摩尔分数大于0.2。 | ||
搜索关键词: | 硫化物 固体 电解质 材料 电池 制造 方法 | ||
【主权项】:
硫化物固体电解质材料,其特征在于,含有Li元素、Si元素、P元素、S元素和O元素,在使用了CuKα射线的X射线衍射测定中的2θ=29.58°±0.50°的位置具有峰,在使用了CuKα射线的X射线衍射测定中的2θ=27.33°±0.50°的位置不具有峰,或者在所述2θ=27.33°±0.50°的位置具有峰的情况下,在将所述2θ=29.58°±0.50°的峰的衍射强度设为IA、将所述2θ=27.33°±0.50°的峰的衍射强度设为IB时,IB/IA的值为1以下,所述O元素相对于所述S元素和所述O元素的总计的摩尔分数(O/(S+O))大于0.2。
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