[发明专利]用于测量混浊样本的设备和方法有效
| 申请号： | 201380069662.8 | 申请日： | 2013-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN105190308B | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | D.丘恰;A.马扎 | 申请（专利权）人： | 调节成像公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 刘春元 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于混浊样本测量的设备包括：多个光源，用于用非空间结构化光来照射混浊样本目标区域；投影系统，用于用空间结构化光来照射混浊样本目标区域；传感器，用于从混浊样本的目标区域收集光，以及处理器，用于分析由传感器捕捉的数据，以生成混浊样本的散射和吸收系数。一种方法包括：用空间结构化光来照射样本，在许多波长下收集从样本反射的光，用非空间结构化光来照射样本，在许多波长下收集从样本反射的光，以及将收集的光的测量结果组合以获得样本的光学性质和/或吸收或荧光分子的浓度。空间和非空间光源的波长优选地是不同的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 混浊 样本 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量混浊样本的设备，包括照射设备，具有被配置成用不具有空间结构的光来照射混浊样本的目标区域的多个光源，投影系统，被配置成用具有空间结构的光来照射混浊样本的所述目标区域，传感器，被配置成从所述混浊样本的所述目标区域收集光，以及处理器，被配置成分析由传感器捕捉的数据，以生成所述混浊样本的散射和吸收系数。
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