[发明专利]微控制器分析工具在审
| 申请号： | 201380069926.X | 申请日： | 2013-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN104903737A | 公开（公告）日： | 2015-09-09 |
| 发明（设计）人： | 琼·欧莱·如斯坦 | 申请（专利权）人： | 北欧半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G06F9/30;G06F11/22;G06F11/30 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 朱凤成;段晓玲 |
| 地址： | 挪威特*** | 国省代码： | 挪威;NO |
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| 摘要： | 一种用于分析微控制器性能的设备，该设备包括微控制器集成电路(2)，至少一个选自包括分析仪(12)和发生器(14)的组的仪器，以及互连模块(8)，互连模块(8)包括在所述微控制器集成电路(2)和所述仪器(12、14)之间的可配置互连。所述设备还包括软件(16)，软件(16)设置成控制所述互连模块(8)，以便基于用户所选的功能以及所述微控制器集成电路(2)的确定的能力和连接来确定所述互连，其中所述设备自身被配置为确定所述微控制器集成电路(2)的至少一些能力和连接。 | ||
| 搜索关键词： | 控制器 分析 工具 | ||
【主权项】：
一种用于分析微控制器性能的设备，该设备包括：微控制器集成电路；至少一个选自包括分析仪和发生器的组的仪器；互连模块，互连模块包括在所述微控制器集成电路和所述仪器之间的可配置互连；以及软件，设置成控制所述互连模块以便基于用户所选的功能以及所述微控制器集成电路的确定的能力和连接来确定所述互连，其中所述设备自身被配置为确定所述微控制器集成电路的至少一些能力和连接。
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