[发明专利]用于光学检测至少一种物体的检测器有效

专利信息
申请号: 201380072505.2 申请日: 2013-12-18
公开(公告)号: CN104969029B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: I·布鲁德;S·C·斯皮勒;E·蒂尔;S·伊尔勒;R·森德;H·沃内博格 申请(专利权)人: 巴斯夫欧洲公司
主分类号: G01C3/06 分类号: G01C3/06
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 肖威;刘金辉
地址: 德国路*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 提出了一种用于确定至少一种物体(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包含:‑至少一个横向光学传感器(130),横向光学传感器(130)适于确定由物体(112)传输至检测器(110)的至少一束光束(138)的横向位置,所述横向位置为在垂直于检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度中的位置,横向光学传感器(130)适于产生至少一个横向传感器信号;‑至少一个纵向光学传感器(132),其中纵向光学传感器(132)具有至少一个传感器区域(136),其中纵向光学传感器(132)设计为以依赖于光束(138)对传感器区域(136)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号,其中在给定的相同总照射功率下,纵向传感器信号依赖于传感器区域(136)中的光束(138)的束横截面;‑至少一个评价装置(142),其中评价装置(142)设计为通过评价横向传感器信号而产生至少一个关于物体(112)的横向位置的信息项和通过评价纵向传感器信号而产生至少一个关于物体(112)的纵向位置的信息项。
搜索关键词: 用于 光学 检测 至少 一种 物体 检测器
【主权项】:
1.一种用于确定至少一种物体(112)的位置的检测器(110),包含:‑至少一个横向光学传感器(130),横向光学传感器(130)适于确定由物体(112)传输至检测器(110)的至少一束光束(138)的横向位置,所述横向位置为在垂直于检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度中的位置,横向光学传感器(130)适于产生至少一个横向传感器信号;‑至少一个纵向光学传感器(132),其中纵向光学传感器(132)具有至少一个传感器区域(136),其中纵向光学传感器(132)设计为以依赖于光束(138)对传感器区域(136)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号,其中在给定的相同总照射功率下,纵向传感器信号依赖于传感器区域(136)中的光束(138)的束横截面;‑至少一个评价装置(142),其中评价装置(142)设计为通过评价横向传感器信号而产生至少一个关于物体(112)的横向位置的信息项和通过评价纵向传感器信号而产生至少一个关于物体(112)的纵向位置的信息项;其中横向光学传感器(130)为具有至少一个第一电极(160)、至少一个第二电极(170)和至少一种光伏材料(164,166,168)的光检测器,其中光伏材料(164,166,168)包埋于第一电极(160)和第二电极(170)之间,其中光伏材料(164,166,168)适于响应于光对光伏材料(164,166,168)的照射而产生电荷,其中第二电极(170)为具有至少两个分电极(176)的分割电极,其中横向光学传感器(130)具有传感器区域(136),其中至少一个横向传感器信号表示光束(138)在传感器区域(136)中的位置;其中通过分电极(176)的电流依赖于横向光学传感器(130)的传感器区域(136)中的光束(138)位置,其中横向光学传感器(130)适于根据通过分电极(176)的电流产生横向传感器信号;其中检测器(110)适于由通过分电极(176)的电流的至少一个比值推导物体(112)的横向位置信息。
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