[发明专利]包括嵌入式磁性隧道结的逻辑芯片有效
申请号: | 201380073040.2 | 申请日: | 2013-03-15 |
公开(公告)号: | CN104995683B | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | K·J·李;T·加尼;J·M·施泰格瓦尔德;J·H·埃普尔;王奕 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16;H01L43/12;H01L43/08;H01L27/22 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 林金朝,王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 实施例将诸如自旋转移矩磁阻随机存取存储器(STT‑MRAM)等的存储器集成在逻辑芯片内。STT‑MRAM包括磁性隧道结(MTJ),其具有上MTJ层、下MTJ层、以及直接接触所述上MTJ层和所述下MTJ层的隧道势垒;其中,所述上MTJ层包括上MTJ层侧壁,并且所述下MTJ层包括与所述上MTJ层水平偏移开的下MTJ侧壁。另一个实施例包括存储器区域,其包括MTJ;以及逻辑区域,其位于衬底上;其中,水平面与所述MTJ相交,第一层间电介质(ILD)材料与所述MTJ相邻,并且第二ILD材料包括在所述逻辑区域中,所述第一和第二ILD材料彼此不等同。本文中还描述了其它实施例。 | ||
搜索关键词: | 包括 嵌入式 磁性 隧道 逻辑 芯片 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:第一磁性隧道结(MTJ),其包括第一上MTJ层、第一下MTJ层、以及直接接触所述第一上MTJ层的第一下表面和所述第一下MTJ层的第一上表面的第一隧道势垒;以及第一层间电介质(ILD)材料;其中,所述第一上MTJ层包括第一上MTJ层侧壁,并且所述第一下MTJ层包括与所述第一上MTJ层侧壁水平偏移第一水平偏移间隔的第一下MTJ侧壁,所述第一水平偏移间隔限定了第一水平偏移距离,并且其中,平行于所述第一上MTJ层的所述第一下表面的第一水平面与包括在所述第一MTJ与所述第一层间电介质材料之间的第一抛光停止材料相交。
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