[发明专利]用于无损测试系统的参考速度测量有效
| 申请号： | 201380074077.7 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN105074453B | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | S.L.斯比利;J.H.梅辛格尔;F.X.德弗罗蒙特;R.C.沃德 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N29/22 | 分类号： | G01N29/22;G01N29/32;G01N27/90;G01N29/265;G01N29/27;G01N29/275;G01N21/89 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶晓勇;刘春元 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种系统包括具有NDT探头和处理器的无损测试(NDT)系统。NDT探头包括测试传感器和运动传感器。测试传感器配置成从检查区捕获传感器数据，以及运动传感器配置成检测NDT探头相对于检查区移动的测量速度。处理器配置成确定测量速度与参考速度范围之间的速度比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 无损 测试 系统 参考 速度 测量 | ||
【主权项】：
1.一种无损测试系统，包括：无损测试探头，包括测试传感器、运动传感器以及反馈装置，其中所述测试传感器配置成从检查区捕获传感器数据，所述运动传感器配置成检测所述无损测试探头相对于所述检查区移动的测量速度；以及所述反馈装置被配置成通过触觉反馈、音频输出、或视觉输出或它们的任一组合向用户提供通知；以及处理器，配置成确定所述测量速度与参考速度范围之间的速度比较。
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