[发明专利]用于非破坏性测试装置的控制的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201380074135.6 申请日: 2013-12-17
公开(公告)号: CN105009178B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: J.H.梅斯辛格;R.C.瓦德;F.X.德弗罗蒙特;M.C.多姆克 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G08C17/02 分类号: G08C17/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;刘春元
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 系统包括非破坏性测试(NDT)装置。NDT装置可进一步包括通信系统,其配置成从外部系统接收控制数据,其中NDT装置配置成使用控制数据来控制NDT装置中包括的部件、控制NDT装置的参数或其组合。
搜索关键词: 用于 破坏性 测试 装置 控制 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于控制非破坏性测试装置的系统,其包括:手持非破坏性测试装置,其包括:手持管道镜,所述手持管道镜包括连接到首端段的铰接段、显示屏、处理器;以及通信系统,所述通信系统配置成从外部系统接收控制数据,所述非破坏性测试装置配置成通过所述处理器将所述控制数据转换为铰接命令,所述铰接命令配置成控制所述非破坏性测试装置中包括的所述铰接段以重新定位所述首端段,其中所述首端段包括设置在所述首端段中的传感器、拍摄装置或其组合,并且其中所述非破坏性测试装置配置成应用所述控制数据以控制所述非破坏性测试装置的参数或其组合,并且其中所述非破坏性测试装置配置成在重新定位所述首端段后捕获图像、测量或其组合。
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