[发明专利]用于测试感测发射晶体的自测电路及方法

摘要

晶体自测电路(100，200)被用于自测被安装到轴承(150)、轴承外壳(160)和机器(170)的一个上的声发射晶体(110)或是振动晶体(211)。晶体自测电路(100，200)包括多工器IC(120，220)，所述多工器IC在脉冲注入配置和信号收集配置之间切换。在脉冲注入配置中，多工器IC(120，220)提供晶体自测输入(122，222)和感测发射晶体(110，211)之间的信号通信。在信号收集配置中，多工器IC(120，220)提供感测发射晶体(110，211)和信号分析器(126，226)之间的信号通信。在操作中，多工器IC(120，220)在预定的时间段上将波形(优选地方波)施加到感测发射晶体(110，211)。多工器IC(120，220)然后切换以收集来自感测发射晶体(110，211)的输出波形并且将输出波形转送到信号分析器(126，226)。输出信号可以由信号放大器(130，231)放大。

主权项

一种用于测试感测发射晶体(110，211)的自测电路(100，200)，所述自测电路(100，200)包括：电压源(VA)；接地(AGND)；控制器(102，202)；晶体自测输入(122，222)；分析器；以及多工器IC(120，220)具有：被提供为与所述接地(AGND)信号通信的电压输入引脚(V)，被提供为与所述接地(AGND)信号通信的接地引脚(GND)，被提供为与所述控制器(102，202)信号通信的控制器输入引脚(IN)，被提供为与所述晶体自测输入(122，222)信号通信的常开引脚(NO)，被提供为与所述感测发射晶体(110，211)信号通信的共用引脚(COM)；与所述分析器信号通信的常闭引脚(NC)输出，其中所述多工器IC(120，220)配置为在信号注入配置和信号收集配置之间切换，以及所述多工器IC的所述配置由控制器(102，202)控制；其中在所述信号注入配置中所述感测发射晶体与所述晶体自测输入(122，222)信号通信；在所述信号收集配置中所述感测发射晶体与所述分析器信号通信；其中在操作中：所述控制器(102，202)配置所述多工器IC(120，220)在信号注入配置和信号收集配置之间切换；其中当所述多工器IC(120，220)处于所述信号注入配置，晶体自测输入(122，222)将波形传递到所述感测发射晶体(110，211)，其中所述波形被提供为与所述感测发射晶体(110，211)信号通信，所述波形激励所述感测发射晶体(110，211)，并且当所述多工器IC(120，220)处于所述信号收集配置，所述感测发射晶体(110，211)发射的所述波形被传递到所述分析器。