[发明专利]X射线减少系统在审

专利信息
申请号: 201380074199.6 申请日: 2013-12-04
公开(公告)号: CN105103237A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: H·Z·梅尔曼;A·格斯 申请(专利权)人: 控制辐射系统有限公司;H·Z·梅尔曼;A·格斯
主分类号: G21K1/04 分类号: G21K1/04;G21K5/04
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 谢鑫;肖冰滨
地址: 美国宾*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种X射线系统,该X射线系统包括:X射线源;检测器,该检测器具有输入区域;显示器,该显示器被配置成显示所检测的图像;用于在所显示的图像上确定患者的感兴趣区域(ROI)的装置;以及准直仪,该准直仪包括用于将所述感兴趣区域(ROI)投影在由所述X射线源曝光的所述输入区域的所选择部分上的装置,所述准直仪可在平行于所述检测器输入区域的平面内移动,所述准直仪包括具有不同尺寸的多个孔,所述孔中的每一者被配置以针对检测器的不同缩放来投影所曝光区域的所述所选择部分。
搜索关键词: 射线 减少 系统
【主权项】:
一种X射线系统,该X射线系统包括:X射线源;检测器,该检测器具有输入区域;显示器,该显示器被配置成显示所检测的图像;用于在所显示的图像上确定患者的感兴趣区域ROI的装置;以及准直仪,该准直仪包括用于将所述感兴趣区域ROI投影在由所述X射线源曝光的所述输入区域的所选择部分上的装置,所述准直仪可在平行于所述检测器输入区域的平面内移动,所述准直仪包括具有不同尺寸的多个孔,所述孔中的每一者被配置以针对检测器的不同缩放来投影所曝光区域的所述所选择部分。
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