[发明专利]偏振选择性表面增强拉曼光谱学分析在审

专利信息
申请号: 201380075344.2 申请日: 2013-01-30
公开(公告)号: CN105102962A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: G.吉布森;郭惠沛;S.J.巴塞罗;李智勇 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;B82B1/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王洪斌;陈岚
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 偏振选择性表面增强拉曼光谱学分析(SERS)包括布置为SERS多聚体的多个纳米指以展现出偏振相关等离子体模式以及刺激源和拉曼检测器中的一个或二者。刺激源利用刺激信号光照SERS多聚体并且拉曼检测器检测由SERS多聚体的邻域中的分析物所发射的拉曼散射信号。拉曼散射信号具有由偏振相关等离子体模式规定或者与其相关联的偏振状态和刺激信号具有对应于偏振相关等离子体模式的偏振状态中的一个或二者。
搜索关键词: 偏振 选择性 表面 增强 光谱 分析
【主权项】:
一种偏振选择性表面增强拉曼光谱学分析(SERS)系统,其包括:SERS感测衬底,其包括布置为SERS多聚体的多个纳米指以展现出偏振相关等离子体模式;利用刺激信号光照SERS多聚体的刺激源;以及检测由SERS多聚体的邻域中的分析物所发射的拉曼散射信号的拉曼检测器,拉曼散射信号具有与偏振相关等离子体模式相关联的偏振状态,其中,刺激信号被偏振以优选地刺激SERS多聚体的偏振相关等离子体模式和拉曼检测器辨别拉曼散射信号的偏振状态和背景噪声信号的不同偏振状态中的一个或二者。
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