[发明专利]用于检测杆形透明物体中的缺陷的方法

摘要

一种用于通过使用被引导到杆形透明物体上的平行光射线的扫描射束检验杆形透明物体中的缺陷的方法，该射束与物体的纵轴正交，使得检验平面包括物体的横截面。扫描射束在被插入以拦截扫描射束的平行射线的杆形物体的相对侧进行检测。来自检测器的电输出信号被处理，以产生在第一扫描方向中的第一光强度曲线图，该光强度曲线图包括由第一和第二阴影边缘界定的阴影区域，所述边缘指示物体跨检验平面的外直径。该方法包括分析第一光强度曲线图以确定阴影区域内正强度峰的存在或不存在，并且如果强度峰被确定为存在，则确定该强度峰内降低强度区域的存在或不存在。如果，作为分析的结果，确定阴影区域内的强度峰不存在或者确定降低强度区域在强度峰内存在，则识别物体的横截面内至少一个结构缺陷的存在。在优选实施例中，杆形透明物体是用于传输光纤的生产的玻璃芯杆。

主权项

1.一种用于检验杆形透明物体中的缺陷的方法，所述方法包括：‑生成在第一扫描方向扫过检验平面的平行光射线的第一扫描射束(23)；‑将第一扫描射束引导到具有纵轴(11)的杆形透明物体(22)上，所述杆形透明物体被布置为使得检验平面横穿杆形透明物体的纵轴并且包括杆形透明物体的横截面；‑在被插入以拦截第一扫描射束的平行射线的杆形透明物体的相对侧检测第一扫描射束，由此产生第一电输出信号；‑处理第一电输出信号以产生在第一扫描方向中的第一光强度曲线图，所述第一光强度曲线图包括由第一阴影边缘(53，81)和第二阴影边缘(54，81’)界定的阴影区域，第一阴影边缘和第二阴影边缘之间的宽度指示杆形透明物体跨检验平面的外直径；‑分析第一光强度曲线图以确定阴影区域内正强度峰的存在或不存在，正强度峰源自透射通过杆形透明物体并被检测的偏转射线，并且如果正强度峰(51；71)被确定为存在，则确定该正强度峰内降低强度区域的存在或不存在，以及‑如果，作为分析的结果，确定阴影区域内的正强度峰不存在，或者如果确定正强度峰存在，确定降低强度区域(72)在所述正强度峰(71)内存在，则识别杆形透明物体的横截面内至少一个结构缺陷的存在。