[发明专利]通过计算机断层扫描成像系统的投射影像的生成在审
申请号: | 201380079071.9 | 申请日: | 2013-06-25 |
公开(公告)号: | CN105493142A | 公开(公告)日: | 2016-04-13 |
发明(设计)人: | A·利特温;R·奈杜;S·希马诺夫斯基 | 申请(专利权)人: | 模拟技术公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T11/00 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 金辉 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 除了其它方面以外,本申请提供了计算机断层扫描成像(CT)系统和/或用于通过CT系统生成处于检查中的对象的投射影像的方法。限定有一表面,投射影像关于所述表面聚焦,且从贯穿所述表面的垂直辐射射线获得的数据和从贯穿所述表面的非垂直射线获得的数据用于生成投射影像。在一些实施例中,投射影像由一条或多条投射线组合而成,所述投射线分别与接触所述表面的直线路径相关联,并在平行于辐射源的旋转轴的方向上延伸。一投射线表示贯穿与投射线关联的直线路径且当辐射源处于辐射源轨道的特定段时发射的射线所经历的衰减的程度。 | ||
搜索关键词: | 通过 计算机 断层 扫描 成像 系统 投射 影像 生成 | ||
【主权项】:
一种用于根据体积计算机断层扫描(CT)数据生成投射影像的方法,包括:通过辐射螺旋形地检查一对象,以便当辐射源和检测器阵列沿一旋转轴在一平面和所述对象之间改变相对位置时,辐射源和检测器阵列关于所述旋转轴在所述平面内旋转;限定一表面,投射影像关于所述表面聚焦;对于第一视角,识别检测器阵列的第一检测器单元所产生的第一数据,所述第一数据对应于贯穿空间上与所述表面重合的第一直线路径的第一射线;对于第二视角,识别检测器阵列的第二检测器单元所产生的第二数据,所述第二数据对应于贯穿所述第一直线路径的第二射线,且其中:所述第一检测器单元和第二检测器单元包含于第一行检测器单元内,所述第一行检测器单元在基本垂直于所述旋转轴的方向上延伸;和利用第一数据和第二数据生成投射影像。
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