[发明专利]浅槽纹理区域和相关方法有效

专利信息
申请号: 201380079262.5 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN105849907B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: H·哈达;J·蒋 申请(专利权)人: 西奥尼克斯股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 11327 北京鸿元知识产权代理有限公司 代理人: 陈英俊<国际申请>=PCT/US2013
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了一种光敏设备和相关方法。在一方面,例如,光敏成像器设备可包括半导体层,具有形成至少一个接合的多个掺杂区;纹理区,耦合到所述半导体层并与电磁辐射相互作用。所述纹理区可形成一系列浅槽隔离特征。
搜索关键词: 纹理 区域 相关 方法
【主权项】:
1.一种具有加强电磁辐射吸收的光电设备,包括:/n半导体层,耦合到支撑基板;/n第一粘结层,耦合在所述半导体层和所述支撑基板之间;/n第二粘结层,设置在所述第一粘结层和所述支撑基板之间;/n反射器层,设置在所述第一粘结层和所述第二粘结层之间;以及/n一组浅槽隔离表面特征,位于所述半导体层和所述支撑基板之间,所述表面特征被定位与穿过所述半导体层的电磁辐射相互作用,其中,所述表面特征形成在所述半导体层中。/n
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