[发明专利]通过高压放电打碎和/或弱化材料的方法

摘要

本发明涉及通过高压放电打碎材料的方法。要被打碎的材料被馈送通过布置在两个电极之间的处理区，该处理区充满处理流体。当馈送材料通过处理区时，高压放电在电极之间形成，以用于打碎材料，并且处理流体被馈送到处理区并从处理区排出。在那种状态下，从处理区排出的处理流体的浊度被确定并与参照值进行比较。在检测到与参照值的偏差的情况下，高压放电的生成和/或材料通过处理区的馈送的一个或多个参数以这样一种方式被改变，使得在改变参数之后，浊度的确定以及与参照值的比较被重复，然后检测到的偏差减小或者检测不到偏差。利用这种方法，变得有可能即使当馈送材料质量变化时也确保处理后的材料的基本恒定质量，或者至少减小馈送材料的变化对处理后的材料的质量的影响。

主权项

一种通过高压放电打碎和/或弱化材料的方法，所述材料尤其是岩石或矿石，包括步骤：a)在布置成相对于彼此有一定距离的至少两个电极之间提供处理区，所述处理区充满处理流体；b)将要被打碎和/或弱化的材料馈送通过处理区；c)在将要被打碎和/或弱化的材料馈送通过处理区的同时在所述至少两个电极之间生成高压放电，以用于打碎和/或弱化材料；d)在将要被打碎和/或弱化的材料馈送通过处理区的同时和在所述至少两个电极之间生成高压放电的同时，将处理流体馈送到处理区中并从处理区中排出处理流体；e)确定处理区中或处理区附近的处理流体或者从处理区排出的处理流体的浊度或者确定馈送到处理区中的处理流体与从处理区排出的处理流体的浊度差；f)比较所确定的浊度与用于浊度的参照值或者所确定的浊度差与用于浊度差的参照值；以及g)依赖于检测到的所确定的浊度与用于浊度的参照值的偏差或者所确定的浊度差与用于浊度差的参照值的偏差，以这样一种方式改变高压放电的生成和/或材料通过处理区的馈送，使得当随后步骤e)和f)被重复时，检测不到偏差或者检测到的偏差更小。