[发明专利]轨迹测定装置、数控装置以及轨迹测定方法有效
申请号: | 201380081410.7 | 申请日: | 2013-12-05 |
公开(公告)号: | CN105814502B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 长冈弘太朗;藤田智哉;小泽正启 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G05B19/4062 | 分类号: | G05B19/4062 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种轨迹测定装置(10),其针对移动对象测定具有大于或等于3轴的可动轴的机械的移动对象(40)的移动轨迹,该轨迹测定装置(10)具有轨迹运算部,该轨迹运算部使用指令条件(C1)、指令信号(S1)以及反馈信号(S2),针对每个平面对将可动轴中的2个可动轴作为坐标轴的平面中的移动轨迹进行运算,其中,指令条件(C1)是包含可动轴间的轴间相位差在内的向移动对象(40)的指令条件,指令信号(S1)是基于轴间相位差生成的向可动轴的指令信号,反馈信号(S2)表示以使可动轴的位置追随指令信号(S1)的方式对可动轴进行了反馈控制时的可动轴的位置。 | ||
搜索关键词: | 可动轴 指令信号 轨迹测定装置 移动对象 指令条件 反馈信号 轨迹运算 移动轨迹 相位差 反馈控制 数控装置 坐标轴 运算 追随 | ||
【主权项】:
一种轨迹测定装置,其针对移动对象测定具有大于或等于3轴的可动轴的机械的所述移动对象的移动轨迹,该轨迹测定装置的特征在于,具有:显示对象轴指定部,其从所述大于或等于3轴的可动轴即测定对象可动轴之中,对作为显示对象的2个可动轴进行指定;以及轨迹运算部,其基于指令条件、指令信号以及反馈信号,对将由所述显示对象轴指定部指定出的所述2个可动轴作为坐标轴的平面中的、之后要对所述移动轨迹进行显示时的所述移动轨迹进行运算,在进行该运算时,提取针对所述2个可动轴的所述指令信号以及所述反馈信号,以向所述2个可动轴的指令信号的轴间相位差成为90°的方式对所述2个可动轴中的一个可动轴的定时进行调整,并且对该定时的调整时间进行计算,使用与所述调整时间相同的时间对所述一个可动轴的反馈信号的定时进行调整,其中,所述指令条件是在对所述移动轨迹进行测定时所使用的、包含圆弧指令的半径、进给速度及轴间相位差在内的向所述移动对象的指令条件,所述指令信号是作为将所述圆弧指令的半径设为振幅、将所述进给速度除以所述半径而得到的值设为频率的正弦波信号而生成的在所述各测定对象可动轴中具有基于轴间相位差的相位的向所述各测定对象可动轴的指令信号,所述反馈信号表示以使所述各测定对象可动轴的位置追随所述指令信号的方式对所述可动轴进行了反馈控制时的所述各测定对象可动轴的位置。
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