[发明专利]用于在真空工艺期间保持基板的保持设备、用于在基板上沉积层的设备及用于输送保持设备的方法有效

专利信息
申请号: 201380081823.5 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN105849310B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: F·皮耶拉利西;W·克莱恩;R·林德伯格;W·布施贝克;J·斯罗伊德 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: C23C16/458 分类号: C23C16/458
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 黄嵩泉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种用于在真空层沉积期间保持基板(20)的保持设备(10)。所述保持设备(10)包括:框架,所述框架具有一或多个框架元件;以及一或多个接触界面(50、500),所述一或多个接触界面提供在所述框架元件中的一或多个处,并且被配置来接触输送系统的一或多个输送辊(60),其中所述一或多个接触界面(50、500)的材料的萧氏D硬度在85至90的范围内。
搜索关键词: 保持 设备
【主权项】:
1.一种用于在真空工艺期间保持基板(20)的保持设备(10),所述保持设备(10)包括:框架(30),所述框架具有一或多个框架元件;以及一或多个接触界面(50,500),所述一或多个接触界面提供在所述框架元件中的一或多个处,并且被配置来接触输送系统的一或多个输送辊(60),其中所述一或多个接触界面(50,500)的材料的萧氏D硬度在85至90的范围内。
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