[发明专利]用于捕获在自动测试设备(ATE)上的测试期间由无线芯片发射的紧密接近电磁辐射的波导

摘要

测试装置具有用作波导的柔性塑料线缆。被测试设备(DUT)是工作在30‑300GHz的极高频率(EHF)频带中的小收发器和天线。DUT收发器的尺寸非常小，限制所发出的电磁辐射的功率以使得紧密接近通信被使用。用于接收的包络可以只从DUT收发器延伸大约一厘米，大约与测试插座的尺寸相同。槽被形成在测试插座中紧密接近天线的地方。槽接收塑料波导的端部。槽延伸至DUT收发器的包络中以使得紧密接近辐射被塑料波导捕获。该波导具有高相对介电常数和反射性金属强以使得辐射可以被运载至在包络外部的接收器。

主权项

一种用于测试发出紧密接近电磁辐射的被测试设备(DUT)的测试系统，所述测试系统包括：在测试期间保持所述DUT的测试插座；接口板，所述接口板在所述DUT被保持在所述测试插座中时被电连接在测试控制器与所述DUT的电接触之间；被形成在所述测试插座中的开口，所述开口延伸到在所述DUT被所述测试控制器测试并被保持在所述测试插座中时由所述DUT产生的电磁辐射的包络中；具有被插入到所述开口中的第一端的塑料波导，所述塑料波导的所述第一端被放置为接收在测试期间由所述DUT发出的电磁辐射；以及被放置在所述塑料波导的第二端附近的接收器天线，其中在测试期间由所述DUT发出的所述电磁辐射被所述塑料波导运载并被引导到所述接收器天线上；其中所述接收器天线在物理上位于所述包络外部；其中所述接收器天线接收在测试期间由所述DUT发出并且由所述塑料波导运载的所述电磁辐射。