[发明专利]基于弹光效应的光谱测量装置及光谱测量方法有效
| 申请号： | 201410001178.8 | 申请日： | 2014-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN103759831A | 公开（公告）日： | 2014-04-30 |
| 发明（设计）人： | 许超;杨涛;蔡祥宝;李兴鳌;周馨慧;仪明东;何浩培;黄维 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210046 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 效应 光谱 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
基于弹光效应的光谱测量装置，其特征在于，包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。
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