[发明专利]一种锥束CT系统探测器几何校正装置及其校正方法

摘要

本发明公开了一种锥束CT系统探测器几何校正装置及其校正方法。本发明的校正装置包括：校正板、调节台、探测器、X射线源装置和X射线源台；其中，X射线源台和调节台分别位于两端，X射线源装置位于X射线源台上；探测器的底面放置在调节台的水平的台面上，校正板位于X射线源装置和探测器之间放置在调节台的台面上；校正板上设置有多个通孔形成通孔阵列，通孔为圆形，每个通孔的尺寸相同，并且轴向平行。本发明采用设置有通孔阵列的校正板，可以快速有效地对锥束CT系统的探测器进行几何校正，完全不需要计算，方便快速。本发明采用校正板，先对探测器的几何位置进行校正，然后再校正旋转台的位置，操作简单快速。

主权项

一种锥束CT系统探测器几何校正装置，其特征在于，所述校正装置包括：校正板（1）、探测器（4）、调节台（5）、X射线源装置（6）和X射线源台（7）；其中，所述探测器（4）的探测面与底面垂直；所述校正板（1）为平板状，正面与背面平行，并且垂直于底面；所述调节台（5）包括调节装置和安装在调节装置上的水平的台面；所述X射线源台（7）和调节台分别位于两端，所述X射线源装置（6）位于X射线源台（7）上；所述探测器（4）的底面放置在调节台（5）的水平的台面上，校正板（1）位于X射线源装置（6）和探测器（4）之间放置在调节台（5）的台面上；所述校正板（1）上设置有多个通孔（2），形成通孔阵列，通孔（2）为圆形，每个通孔的尺寸相同，并且轴向平行。