[发明专利]测量阻性结构电阻的方法和系统

摘要

本发明公开了用于测量阻性结构的电阻的方法和系统，所述阻性结构具有至少三个节点。通过测量没有校准电流注入到阻性结构的第一和第二节点之间的第三结点时电阻结构的一个输出端上的电压来确定第一校准信号。然后向第三节点注入校准电流，以及确定第二校准信号。确定第一校准信号和第二校准信号之间的差的绝对值，该绝对值与阻性结构的电阻值和校准电流的乘积成比例。

主权项

1.一种用于测量电阻的系统，包括：阻性结构，具有：位于阻性结构第一端的第一节点；位于阻性结构第二端的第二节点；以及位于阻性结构上第一节点和第二节点之间的第三节点；校准电流生成电路，其具有与所述阻性结构的第三节点耦合的输出端；以及信号调节电路，包括：与阻性结构的第一节点耦合的第一输入端；与阻性结构的第二节点耦合的第二输入端；与阻性结构的第三节点耦合的第三输入端；以及输出端，其中，信号调节电路被配置为在其输出端提供一个信号，该信号与第三节点处的电压和阻性结构的第一节点及第二节点处的电压的加权平均值之间的差值成比例，所述系统进一步包括与信号调节电路的输出端耦合的信号处理电路，其中信号处理电路被配置为计算阻性结构的电阻值，其中，校准电流生成电路被配置为将至少两个具有不同幅值或符号不同的校准电流顺序地耦合到阻性结构的第三节点，且所述信号处理电路被配置为根据当校准电流被设置为第一值时信号调节电路的第一输出电压和当校准电流被设置为第二值时信号调节电路的第二输出电压之间的差值来计算阻性结构的电阻值。