[发明专利]测试闪存单元电流分布的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201410005717.5 申请日: 2014-01-07
公开(公告)号: CN103714863B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 索鑫 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 吴靖靓,骆苏华
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测试闪存单元电流分布的系统及方法。所述测试闪存单元电流分布的系统包括电流电压转换单元,适于将所述闪存单元的读出电流转换为测试电压;比较统计单元,适于根据所述测试电压与参考电压的比较结果获得闪存单元电流分布。所述测试闪存单元电流分布的方法包括将所述闪存单元的读出电流转换为测试电压;根据所述测试电压与参考电压的比较结果获得闪存单元电流分布。本发明提供的测试闪存单元电流分布的系统及方法,提高了测试闪存单元电流分布的速度,降低了测试闪存单元电流分布的成本。
搜索关键词: 测试 闪存 单元 电流 分布 系统 方法
【主权项】:
一种测试闪存单元电流分布的系统,其特征在于,包括:电流电压转换单元,适于将所述闪存单元的读出电流转换为测试电压;比较统计单元,适于根据所述测试电压与参考电压的比较结果获得闪存单元电流分布;所述电流电压转换单元适于从所述闪存单元连接的位线读取所述读出电流;所述电流电压转换单元包括运算放大器和采样电阻;其中,所述运算放大器的第一输入端连接所述采样电阻的一端并适于输入所述读出电流;所述运算放大器的第二输入端适于输入驱动电压,所述驱动电压与所述位线上的电压相等;所述运算放大器的输出端连接所述采样电阻的另一端并适于输出所述测试电压;所述参考电压的数量为至少两个,所述比较统计单元适于将所述测试电压与至少两个参考电压进行比较以获得至少两个比较结果,并根据所述至少两个比较结果获得闪存单元电流分布。
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